SEMICON WEST，7月11日至13日，1561號展位
19
Jun
Jun
Semicon West USA, San Francisco，–1561展位的一系列創新產品
如果你計劃參加今年在加利福尼亞州舊金山舉行的Semicon West展會，請務必參觀Seica展臺–#1561！Seica USA是Osai Automation Systems和Focused Test Inc.半導體測試解決方案的獨家經銷商。Seica與這些聯合參展商在一個大型展位上合作，提供各種半導體處理和功率、GaN和SiC測試解決方案。而且，作為飛針測試技術的世界引領者，Seica是客戶尋找尖端晶圓、探針卡和電路板測試解決方案的地方。
聚光燈下——Seica的飛針測試儀Pilot VX Next>系列
飛針測試儀Pilot VX Next>系列代表了飛針測試技術的最新前沿；它是那些想要最大性能的人的完整解決方案：最高的測試速度、低到中等體積的測試、最大的測試覆蓋率和靈活性，用于原型設計、制造或修復任何類型的探針卡、晶片、基板或CCA。它的立式結構是同時探測設備兩側的最佳解決方案。Seica的Pilot VX Next系列將用于測試陶瓷晶片，同樣的配置用于測試當今世界上生產的最復雜的探針/MLO板。
飛針測試儀Pilot VX Next>系列適用于：
晶片測試
探針卡/MLO測試
產品驗證測試
無矢量和電路內測試
編程和功能測試
邊界掃描測試
帶自動加載器的中/高容量
高度集成的原型
多品種產品
未設計用于測試的板
反求工程與維修
聚光燈下——聚焦測試公司（Focused Test，Inc.）FTI 1000和FTI2000
Focused Test股份有限公司宣布推出FTI 2000 Power IC測試系統，該系統將由我們的美國分銷商Seica Inc.在展臺上展出。
FTI2000憑借其每通道板測試儀系統架構，為穩壓器、電壓轉換器和柵極驅動器等功率IC提供了高吞吐量、低成本和可擴展的測試解決方案。FTI 2000提供最新功率IC的多站點生產、工程表征和故障分析測試所需的高電壓（1000V）、高電流（100A）和100MHz數字性能。其占地面積小，有效利用了寶貴的測試場地空間。
Focused Test繼續擴展FTI 1000功率離散測試系統的范圍，以滿足SiC Mosfet和GaN HEMT寬帶隙功率市場的需求，包括更高電壓和更高電流的DC和UIS、Delta Vsd和短路測試。
SEMICON West是全球微電子行業首屈一指的年度盛會。SEMICON West 2023將于7月11日至13日返回莫斯科會議中心。由于美國政府對《芯片與科學法案》的2.8億美元投資，今年應該比往年更好。請光臨我們的展位#1561，Seica副總裁David Sigillo及其團隊期待并歡迎您參加演示，并幫助您解決最具挑戰性的測試和自動化需求。