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Pilot V8 Next>系列代表了雙面飛行探針測(cè)試中的一項(xiàng)重要技術(shù)創(chuàng)新,克服了水平系統(tǒng)的固有局限性。
其立式結(jié)構(gòu)是同時(shí)探測(cè)UUT兩側(cè)的最佳解決方案。這增加了測(cè)試吞吐量和靈活性,同時(shí)保證了快速、精確、可靠和可重復(fù)的探測(cè),以及用于測(cè)試UUT的所有移動(dòng)資源的完全可用性。
測(cè)試性能:
–在線測(cè)試
–功能測(cè)試
–上電功能測(cè)試
–OTPN?(One Touch Per Net) ,帶Fnode,用于檢測(cè)短路開路和節(jié)點(diǎn)阻抗
–OPENFIX
–在板編程
–邊界掃描
–紅外熱掃描
–LED測(cè)試
–FLYSTRAIN(實(shí)時(shí))
–激光翹曲補(bǔ)償